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- 200 1_ |a 超大规模集成电路测试 |9 chao da gui mo ji cheng dian lu ce shi |e 数字、存储器和混合信号系统 |f (美)Michael L.Bushnell, (美)Vishwani D.Agrawal著 |g 蒋安平, 冯建华, 王新安译
- 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2005
- 215 __ |a 16,511页 |d 26cm
- 225 2_ |a 国外电子与通信教材系列 |9 guowaidianziyutongxinjiaocaixilie
- 305 __ |a 本书中文简体专有翻译版由Kluwer Academic Publishers授权出版
- 330 __ |a 本书本三个部分,第一部分是测试基础,介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法,详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、模拟与混合信号测试等。第三部分是可测试性设计,包括扫描设计、BIST、模拟测试等。
- 461 _0 |1 2001 |a 国外电子与通信教材系列
- 510 1_ |a Essentials of Electronic Testing |e For Digital Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits |z eng
- 517 1_ |a 数字、存储器和混合信号系统 |9 shu zi、 cun chu qi he hun he xin hao xi tong
- 606 0_ |a 超大规模集成电路 |A chaodaguimojichengdianlu |x 测试 |j 教材
- 701 _1 |c (美) |a Bushnell |9 Bushnell |b Michael L. |4 著
- 701 _1 |c (美) |a Agrawal |9 Agrawal |b Vishwani D. |4 著
- 702 _0 |a 蒋安平 |9 jiang an ping |4 译
- 702 _0 |a 冯建华 |9 feng jian hua |4 译
- 702 _0 |a 王新安 |9 wang xin an |4 译
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- 801 _2 |a CN |b 261060 |c 20060914
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