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• 200 1_ |a 可靠性物理 |9 kekaoxingwuli |f 姚立真编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2004

• 215 __ |a 21,669页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书 |9 dianziyuanqijianzhiliangyukekaoxingjishucongshu |f 张鹤鸣主编

• 320 __ |a 有书目（第668-669页）

• 330 __ |a 全书分为四部分。阐述了电子元器件失效分析中的理论基础；论述了失效的物理模型；介绍了元器件静电放电失效的原理和防护，元器件的辐射效应和抗辐射加固技术等内容。

• 461 _0 |1 2001 |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书 |1 701 0 |a 张鹤鸣主编

• 606 0_ |a 电子元件 |A dianziyuanjian

• 606 0_ |a 可靠性 |A kekaoxing

• 606 0_ |a 可靠性物理学 |A kekaoxingwulixue

• 690 __ |a TN6 |v 4

• 701 _0 |a 姚立真 |9 yaolizhen |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 261060 |c 20060704

• 905 __ |a XATU |d TN6/16

• 991 __012006009129

• 995 __ |a 261060 |f TN6/16

• 999 __ |t C |A shenxy |a 20060703 15:35:46 |I zw |i 20060704 15:22:5