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• 200 1_ |a 晶硅电池及无损检测技术 |A Jing Gui Dian Chi Ji Wu Sun Jian Ce Ji Shu |d Crystalline silicon photovoltaic cell and its non-destructive testing technology |f 王月著 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 冶金工业出版社 |d 2022

• 215 __ |a 166页 |c 图 |d 24cm

• 330 __ |a 本书介绍了一种基于锁相热成像的太阳能电池无损检测技术。全书共分为6章：第1章介绍了太阳能电池的研究背景括太阳能电池的发展现状以及新趋势；第2章介绍了晶硅电池的工作原理、分类，并详细介绍了新型晶硅电池的结构；第3章介绍了硅电池制备工艺及检测技术，从硅材料的制备技术延伸到硅电池成品化后的检测工艺；第4章介绍了太阳能电池制备工艺实验括硅电池表面工艺处理和减反射膜的制备；第5章介绍了无损检测技术，针对规检测技术介绍了红外检测技术；第6章介绍了红外无损检测技术在硅电池检测中的应用，采用两种锁相红外热成像技术对硅太阳能电池的缺行了检测与分析，侧是分析缺陷的特征。

• 510 1_ |a Crystalline silicon photovoltaic cell and its non-destructive testing technology |z eng

• 606 0_ |a 硅太阳能电池 |A Gui Tai Yang Neng Dian Chi |x 无损检验

• 690 __ |a TM914.4 |v 5

• 701 _0 |a 王月 |A Wang Yue |4 著

• 801 _2 |a CN |b OLCC |c 20230202

• 905 __ |a XATU |d TM914.4/63

• 920 __ |a 261060 |z 1