机读格式显示(MARC)
- 000 01136nam2 2200313 4500
- 010 __ |a 7-120-00021-7 |d CNY68.00
- 100 __ |a 20060824d2004 em y0chiy0110 ea
- 200 1_ |a 微电子技术工程 |e 材料、工艺与测试 |f 刘玉岭等编著 |9 wei dian zi ji shu gong cheng
- 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2004
- 215 __ |a 11,646页 |d 26cm
- 225 2_ |a 微电子技术系列丛书 |9 wei dian zi ji shu xi lie cong shu
- 330 __ |a 本书介绍了微电子技术衬底材料性能、加工工艺与测试技术;共分15章,内容涉及硅单晶性质与加工技术、外延、氧化、扩散、制版、图形转移、刻蚀、多层布线、封装、键合、微机械加工及检测技术。
- 461 _0 |1 2001 |a 微电子技术系列丛书
- 606 0_ |a 微电子技术 |A weidianzijishu |x 生产工艺
- 606 0_ |a 微电子技术 |A weidianzijishu
- 701 _0 |a 刘玉岭 |f (1942~) |4 编著 |9 liu yu ling
- 801 _0 |a CN |b 261060 |c 20060825
- 905 __ |a XATU |d TN405/9
- 995 __ |a 261060 |f TN405/9
- 999 __ |t C |A cuixiaojing |a 20060824 09:13:52 |I zw |i 20060825 08:56:4