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• 200 1_ |a 嵌入式处理器调试方法与案例分析 |A Qian Ru Shi Chu Li Qi Tiao Shi Fang Fa Yu An Li Fen Xi |d = Debug methods and examples for embedded processor |f 扈啸, 王耀华著 |z eng

• 210 __ |a 长沙 |c 国防科技大学出版社 |d 2024

• 215 __ |a 214页 |c 图 |d 24cm

• 320 __ |a 有书目 (第213-214页)

• 330 __ |a 本书共分6章：第1章介绍了研究背景和主要内容，对目前嵌入式处理器调试技术领域现状进行了概述，对多核处理器的调试挑战进行了分析；第2章对解决工程问题的通用调试方法进行了论述，重点讨论了集合与逻辑、概率与因果方法、逻辑树与故障树等方法，提出了基于概率故障树的推理，并特别讨论了质量归零的方法和步骤；第3章概述了调试的技术和工具，讨论了处理器调试的模型，提出了一套调试的理论模型和基于影响要素的调试方法论；第4章对嵌人式处理器系统的核心设计问题进行了分析论述；第5章结合10个经典调试案例，对软硬件多种调试过程进行了深入描述和剖析；第6章对大量调试案例进行了分类归纳并简要分析。

• 333 __ |a 微处理器调试方法研究人员

• 510 1_ |a Debug methods and examples for embedded processor |z eng

• 606 0_ |a 微处理器 |A Wei Chu Li Qi |x 调试方法

• 690 __ |a TP332 |v 5

• 701 _0 |a 扈啸 |A Hu Xiao |4 著

• 701 _0 |a 王耀华 |A Wang Yaohua |4 著

• 801 _0 |a CN |b DUTL |c 20240909

• 905 __ |a XATU |d TP332/209

• 920 __ |a 261060 |z 1

• 998 __ |a DUTL