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• 000 01335nam0 2200325 450

• 001 0000431985

• 005 20241218161800.0

• 010 __ |a 978-7-5673-0580-9 |d CNY49.00

• 099 __ |a CAL 012021123755

• 100 __ |a 20211105e20222021em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 430000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 嵌入式处理器片上追踪调试技术 |A qian ru shi chu li qi pian shang zhui zong diao shi ji shu |d = On-chip trace debug for embedded processor |f 扈啸, 王耀华, 阮喻著 |z eng

• 210 __ |a 长沙 |c 国防科技大学出版社 |d 2021 |h 2022重印

• 215 __ |a 199页 |c 图 |d 24cm

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书是嵌入式处理器调试技术方面的专著。介绍了调试技术的相关研究，讨论了嵌入式处理器的调试模型，对片上trace技术的原理、优势和实现模型进行了深入分析，对片上信息采集压缩、trace数据流的片上传输结构、trace辅助调试调优应用以及程序控制流错误的在线检测等技术进行了深入研究，并对如何设计实现一套完整的多核片上trace调试系统进行了详述。

• 333 __ |a 微处理器调式方法研究人员

• 510 1_ |a On-chip trace debug for embedded processor |z eng

• 606 0_ |x 调式方法 |a 微处理器 |A wei chu li qi

• 690 __ |a TP332 |v 5

• 701 _0 |a 扈啸 |A Hu Xiao |4 著

• 701 _0 |a 王耀华 |A Wang Yaohua |4 著

• 701 _0 |a 阮喻 |A Ruan Yu |4 著

• 801 _0 |a CN |b NEU |c 20211105

• 905 __ |a XATU |d TP332/210

• 920 __ |a 261060 |z 1

• 998 __ |a NEU