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• 200 10 |a 粉末衍射法测定晶体结构 |h 下册 |9 Fenmoyanshefacedingjingtijiegou |P FMYSFCDJTJG |f 梁敬魁著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2003

• 215 __ |a 396-854页 |d 20cm

• 225 2_ |a 应用物理学丛书 |f 吴自勤,杨国桢主编 |A Yingyongwulixuecongshu

• 330 __ |a 材料科学是多学科交叉和渗透的结果。晶体结构是了解固体材料性质的重要基础，Ｘ射线粉末衍射法是提供有关晶体结构信息的主要方法之一。本书除了扼要介绍Ｘ射线衍射的晶体学基础，化合物结构的晶体化学基本概念，Ｘ射线粉末衍射的实验方法，以及衍射线的位置，峰形和强度的测定外，比较系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化，点阵常数的精确测量，粉末衍射测定新型化合物晶体结构的各种方法及其Ｒｉｅｔｖｅｌｄ法修正，固溶体类型与超结构的测定，以及键价理论在晶体结构分析中的应用。重点阐述粉末衍射结构分析从头计算方法。

• 333 __ |a 读者对象：X射线晶体学和材料科学科技工作者，高等院校有关专业师生

• 410 _0 |1 2001 |a 应用物理学丛书 |1 701 0 |a 吴自勤,杨国桢主编

• 461 _0 |1 2001 |a 应用物理学丛书 |1 701 0 |a 吴自勤,杨国桢主编

• 606 0_ |a 粉末衍射法 |x 晶体结构测定 |A Fenmoyanshefa

• 690 __ |a O723 |v 4

• 701 _0 |a 梁敬魁 |4 著 |9 Liangjingkui

• 801 _3 |a CN |b CDSY |c 20030108

• 801 _2 |a CN |b 261060 |c 20040218

• 905 __ |a XATU |d O723/3-2

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• 995 __ |a 261060 |f O723/3-2

• 999 __ |t C |A cxj |a 20031229 16:55:33 |M cxj |m 20031229 16:55:54 |I zw |i 20040218 15:35:12 |G zw |g 20040218 15:35:1