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• 200 1_ |a 集成电路测试基础 |A Ji Cheng Dian Lu Ce Shi Ji Chu |f 谷颜秋主编 |g 佛山市联动科技股份有限公司编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2022

• 215 __ |a 10,320页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 集成电路产业知识赋能工程系列丛书 |A Ji Cheng Dian Lu Chan Ye Zhi Shi Fu Neng Gong Cheng Xi Lie Cong Shu

• 330 __ |a 本书共15章，内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响，自动测试设备(ATE) V/I源的基本原理和实际应用限制，一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的常用方法，以及测试电路相关的信号完整性方面的介绍，并讲解了集成电路测试项目开发流程。

• 410 _0 |1 2001 |a 集成电路产业知识赋能工程系列丛书

• 606 0_ |a 集成电路 |A Ji Cheng Dian Lu |x 电路测试

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |a 谷颜秋 |A Gu Yan Qiu |4 主编

• 712 02 |a 佛山市联动科技公司 |A Fo Shan Shi Lian Dong Ke Ji Gong Si |4 编著

• 801 _2 |a CN |b OLCC |c 20220914

• 905 __ |a XATU |d TN407/13

• 920 __ |a 261060 |z 1