机读格式显示(MARC)

• 000 01570nam 2200397 450

• 001 0000373655

• 005 20200619145600.0

• 010 __ |a 978-7-121-37663-4 |d CNY69.00

• 099 __ |a CAL 012020023340

• 100 __ |a 20200110d2019 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 高可靠性电子产品工艺设计及案例分析 |A gao ke kao xing dian zi chan pin gong yi she ji ji an li fen xi |f 王威, 张伟编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2019

• 215 __ |a XIII, 261页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 电子制造技术丛书 |A dian zi zhi zao ji shu cong shu

• 300 __ |a 电子信息·Ei精品

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书以提高电子产品可靠性为主线，从工艺角度系统介绍了包括设计、制造和使用维护在内的产品全寿命周期过程中各个环节和不同阶段的相关设计要求、设计方法和注意事项，内容涉及可制造性、可装配性、可测试性、可维护性等诸多方面。全书按照材料、零部组件、单机、整机的层次进行叙述，分为元器件与材料工艺选型、可制造性设计、结构设计与防护设计。

• 333 __ |a 本书适用于电子产品结构设计师、电路设计师、电装工艺师、产品质量工程师和检测工程师及电装操作人员；电子产品设计和工艺制造专业师生

• 410 _0 |1 2001 |a 电子制造技术丛书

• 606 0_ |a 电子产品 |A dian zi chan pin |x 产品设计 |x 案例

• 690 __ |a TN602 |v 5

• 701 _0 |a 王威 |A wang wei |4 编著

• 701 _0 |a 张伟 |A zhang wei |4 编著

• 801 _0 |a CN |b WHUTL |c 20200422

• 905 __ |a XATU |d TN602/8

• 920 __ |a 242120 |z 1

• 920 __ |a 262010 |z 1

• 920 __ |a 221020 |z 1

• 920 __ |a 261011 |z 1

• 920 __ |a 233020 |z 1

• 920 __ |a 261030 |z 1

• 920 __ |a 214010 |z 1