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• 200 1_ |a 程序设计缺陷分析与实践 |A cheng xu she ji que xian fen xi yu shi jian |f 尹浩, 于秀山编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2011

• 215 __ |a 268页 |c 图 |d 24cm

• 320 __ |a 有书目 (第267-268页)

• 330 __ |a 代码缺陷源自程序设计，本书结合作者多年软件测试经验，重点归纳总结了C/C++和Java语言在程序设计方面存在的鲜为人知的各种缺陷，以期为软件设计人员和测试人员提供有益借鉴。全书共5章2个附录，分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。重点介绍了C/C++语言程序在编码风格、内存管理、缓冲区使用、指针以及安全等方面存在的典型缺陷，并结合实例对每种缺陷进行了分析，同时给出了缺陷修改方法。

• 606 0_ |a 程序设计 |A Cheng xu she ji |x 缺陷 |x 研究

• 690 __ |a TP311.11 |v 4

• 701 _0 |a 尹浩, |A yin hao |f 1959- |4 编著

• 701 _0 |a 于秀山 |A yu xiu shan |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 北京图书大厦有限责任公司 |c 20110327

• 905 __ |a XATU |d TP311.11/56

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