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检索到 1 条 题名=Surface characterization and testing II : 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Surface characterization and testing II : 10-11 August 1989, San Diego, California / O43-53/E31:(89)

    馆藏复本：2
    可借复本：2     John E. Greivenkamp, Matt Young, chairs/editors.
    SPIE--the International Society for Optical Engineering, c1989.
    (0) 馆藏

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