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检索到 1 条 题名=Active infrared technology for defect inspection of microelectronics packaging 的结果    

 


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  1. 中文图书1.主动红外微电子封装缺陷检测技术 TN405.94/10

    馆藏复本：3
    可借复本：2     陆向宁著
    电子工业出版社 2016
    (0) 馆藏

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