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中文图书1.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/21
馆藏复本:3
可借复本:2 (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编
机械工业出版社 2016
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中文图书2.纳米CMOS集成电路:从基本原理到专用芯片实现:from Basics to ASICs TN432/14
馆藏复本:3
可借复本:2 (荷兰) Harry Veendrick著
电子工业出版社 2011
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