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  1. 西文图书1.International Conference on New Developments in Automatic Testing, 30 November-2 December 1977, venu TP29-53/E3

    馆藏复本：1
    可借复本：1     organised by the Control and Automation and Electronics Divisions of the Institution of Electrical E
    The Institution, 1977.
    (0) 馆藏

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