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中文图书1.倒装芯片缺陷无损检测技术 TN405/23
馆藏复本:2
可借复本:1 廖广兰, 史铁林, 汤自荣著
高等教育出版社 2019
(0) 馆藏 -
中文图书2.MEMS技术及应用 TM38/24
馆藏复本:3
可借复本:2 蒋庄德等著
高等教育出版社 2018
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馆藏复本:2
可借复本:1 廖广兰, 史铁林, 汤自荣著
高等教育出版社 2019
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馆藏复本:3
可借复本:2 蒋庄德等著
高等教育出版社 2018
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