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中文图书1.硬件电路与产品可靠性设计 TN702/213
馆藏复本:3
可借复本:2 朱波编著
清华大学出版社 2022
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中文图书2.电子产品可靠性分析与风险评估 TN606/31
馆藏复本:2
可借复本:1 陈颖, 康锐等著
国防工业出版社 2022
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中文图书3.半导体器件可靠性技术 TN306/4
馆藏复本:1
可借复本:1 (日)安食恒雄主编
西安电子科技大学出版社 1991
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中文图书4.基于故障物理的电子产品可靠性 TN606/20
馆藏复本:4
可借复本:3 徐明编著
航空工业出版社 2015
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