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检索到 1 条 丛书名=国际信息工程先进技术译丛 主题=缺陷检测 的结果    

 


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  1. 中文图书1.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/21

    馆藏复本：3
    可借复本：2     (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编
    机械工业出版社 2016
    (0) 馆藏

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