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中文图书1.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/21
馆藏复本:3
可借复本:2 (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编
机械工业出版社 2016
(0) 馆藏 -
中文图书2.微光学和纳米光学制造技术 TN223/7
馆藏复本:3
可借复本:2 (美) Shanalyn A. Kemme编著
机械工业出版社 2012
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馆藏复本:3
可借复本:2 (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编
机械工业出版社 2016
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馆藏复本:3
可借复本:2 (美) Shanalyn A. Kemme编著
机械工业出版社 2012
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