西安工业大学图书馆书目检索系统

| 暂存书架(0) | 登录

检索到 1 条 分类号=TN4 主题=无损检验 的结果    

 


所有图书 可借图书

  1. 中文图书1.倒装芯片缺陷无损检测技术 TN405/23

    馆藏复本：2
    可借复本：1     廖广兰, 史铁林, 汤自荣著
    高等教育出版社 2019
    (0) 馆藏

返回顶部