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中文图书1.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/21
馆藏复本:3
可借复本:2 (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编
机械工业出版社 2016
(0) 馆藏 -
中文图书2.SOI CMOS技术及其应用 TN433/1
馆藏复本:6
可借复本:6 黄如...[等]著
科学出版社 2005
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馆藏复本:3
可借复本:2 (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编
机械工业出版社 2016
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馆藏复本:6
可借复本:6 黄如...[等]著
科学出版社 2005
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