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中文图书1.信号与系统:英文版.影印版 TN911.6/169
馆藏复本：6
可借复本：6 (加)西蒙·赫金(Simon Haykin，(美)Barry Van Veen著
电子工业出版社 2003
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中文图书2.测试成熟度模型集成:测试过程改进指南 TP311.5/393
馆藏复本：5
可借复本：4 Erik van Veenendaal, Brian Wells著
清华大学出版社 2014
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中文图书3.纳米CMOS集成电路:从基本原理到专用芯片实现:from Basics to ASICs TN432/14
馆藏复本：3
可借复本：2 (荷兰) Harry Veendrick著
电子工业出版社 2011
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中文图书4.信号与系统 TN911.6/60
馆藏复本：9
可借复本：9 (加) Simon Haykin, (美) Barry Van Veen著
电子工业出版社 2004
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