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中文图书2.模型检测 TP274/644
馆藏复本:3
可借复本:2 (美) Edmund M. Clarke, Jr.,(美) Orna Grumberg,(美) Doron A. Peled著
电子工业出版社 2018
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中文图书3.现代电子技术基础实践 TN01/181
馆藏复本:3
可借复本:2 马洪连主编
电子工业出版社 2018
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