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中文图书1.半导体制造中的质量可靠性与创新 TN305/17
馆藏复本:2
可借复本:1 简维廷, 郭位, 张启华编著
电子工业出版社 2016
(0) 馆藏 -
中文图书2.系统重要性测度原理与应用 N94/49
馆藏复本:4
可借复本:3 (美) Way Kuo, Xiaoyan Zhu著
国防工业出版社 2014
(0) 馆藏
馆藏复本:2
可借复本:1 简维廷, 郭位, 张启华编著
电子工业出版社 2016
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馆藏复本:4
可借复本:3 (美) Way Kuo, Xiaoyan Zhu著
国防工业出版社 2014
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