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检索到 2 条 责任者=来萍 的结果    

 


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  1. 中文图书1.电子元器件失效分析技术 TN601/2

    馆藏复本：3
    可借复本：2     工业和信息化部电子第五研究所组编
    电子工业出版社 2015
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.ESD揭秘:静电防护原理和典型应用:from semiconductor manufacturing to product use TN430.2/4

    馆藏复本：4
    可借复本：3     (美) Steven H. Voldman著
    机械工业出版社 2014
    (0) 馆藏

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