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中文图书1.基于失效模式的电子元器件质量控制 TN6/70
馆藏复本:3
可借复本:2 李京苑主编
首都经济贸易大学出版社 2019
(0) 馆藏 -
中文图书2.几何量常用测量方法 TB92/9
馆藏复本:2
可借复本:1 李京苑,陈金存,刘大亮编著
中国宇航出版社 2018
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馆藏复本:3
可借复本:2 李京苑主编
首都经济贸易大学出版社 2019
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馆藏复本:2
可借复本:1 李京苑,陈金存,刘大亮编著
中国宇航出版社 2018
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