西安工业大学图书馆书目检索系统

| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:4

题名/责任者:
典型电子电路设计与测试/张东辉[等]编著
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2024
ISBN及定价:
978-7-111-76751-0/CNY99.00
载体形态项:
293页:图;24cm
丛编项:
实用电子电路设计丛书
个人责任者:
张东辉 编著
个人责任者:
常国洁 编著
个人责任者:
张超杰 编著
个人责任者:
孙德冲 编著
学科主题:
电子电路-电路设计
学科主题:
电子电路-测试
中图法分类号:
TN702
中图法分类号:
TN707
题名责任附注:
题名页题其余责任者: 常国洁, 张超杰, 孙德冲
书目附注:
有书目 (第293页)
提要文摘附注:
本书主要对运算放大器电路、波形发生电路、功率放大电路、信号隔离和转换电路等典型电子电路进行设计与测试, 包括工作原理分析、参数计算、仿真验证, 以及实际电路板测试。每个设计独立成节, 首先进行电路工作原理讲解和主要参数计算 ; 然后进行电路仿真分析, 瞬态、直流、交流、参数和高级仿真时对电路关键节点信号波形进行测试, 以便与实际测试进行对比 ; 最后进行电路板制作与实际测试, 包括详细元器件列表、调试步骤、典型测试波形及故障排除与分析。本书选取的电路属于简单实用型电路, 将理论计算、仿真分析、实际测试相结合, 并配套书中实例的电路图、电路板、元器件表和PSpice仿真程序, 以便读者更加全面、透彻地理解和设计电路。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN702/214 CN1928520   内阅图书     阅览 内阅图书
TN702/214 CN1928521   未央馆     可借 未央馆
TN702/214 CN1928522   未央馆     可借 未央馆
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架