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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：22

题名/责任者:
强冲击环境集成电路失效机理及工艺改进研究/康婉玉著 刘星 研高工指导
出版发行项:
西安:西安工业大学,2022
ISBN及定价:
缴送
载体形态项:
80页;29cm
个人责任者:
康婉玉 著
个人次要责任者:
刘星 研高工 指导
非控制主题词:
集成电路；强冲击环境；失效机理；多物理场耦合；可靠性试验；工艺改进
中图法分类号:
TN70
学位论文附注:
硕士学位论文——西安工业大学电子信息工程学院，2022
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN70/3 759006989   特种     阅览 特种
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