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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:22

题名/责任者:
光电材料表征技术/季振国等著
出版发行项:
杭州:浙江大学出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-308-21953-2/CNY78.00
载体形态项:
231页:图;25cm
并列正题名:
Characterization technologies for optoelectronic materials
个人责任者:
季振国
学科主题:
光电材料-研究
中图法分类号:
TN204
相关题名附注:
封面英文题名:Characterization technologies for optoelectronic materials
提要文摘附注:
本书主要介绍光电材料涉及的表征技术,并以大量实例辅助说明。全书分为元素成分分析、元素价态分析、晶体结构分析、表面形貌分析、薄膜厚度测量、光学性能测量、电学性能测量等部分。本书从材料研究人员角度出发介绍材料表征技术,重在介绍各种技术在材料领域的应用,以用为主,具有较强的科学性和实用性。
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