MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:23
- 题名/责任者:
- 集成电路版图设计技术探究/杜成涛, 方杰, 张德平著
- 出版发行项:
- 合肥:中国科学技术大学出版社,2021
- ISBN及定价:
- 978-7-312-05050-3/CNY50.00
- 载体形态项:
- 219页:图;24cm
- 个人责任者:
- 杜成涛 著
- 个人责任者:
- 方杰 著
- 个人责任者:
- 张德平 著
- 学科主题:
- 集成电路-电路设计-研究
- 中图法分类号:
- TN402
- 相关题名附注:
- 英文题名取自封底
- 书目附注:
- 有书目 (第216-219页)
- 提要文摘附注:
- 本书以我国集成电路行业正处于发展的黄金时期, 集成电路的设计、制造和封装测试都面临极大的发展机遇为背景, 以集成电路版图设计为研究对象, 系统深入研究了基于Cadence软件的集成电路版图设计技术、编辑和验证的方法。探讨了集成电路版图在新技术下的新变化。探究了ESD, Latch-up微观原理, 如何放置保护环来正确防护Latch-up。系统研究了信号完整性问题和低功耗设计 ; 集成电路噪声设计技术及设计技巧 ; 集成电路的寄生参数问题, 以及电路和版图设计者如何充分将寄生因素考虑进去, 在设计中尽量留一些余量以便把寄生参数带来的影响降至最低 ; BCD工艺发展趋势及国内外市场现状。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN402/65 | CN1873096 | 内阅图书 | 阅览 | 内阅图书 | |
TN402/65 | CN1873097 | 未央馆 | 可借 | 未央馆 | |
TN402/65 | CN1873098 | 未央馆 | 可借 | 未央馆 |
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