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题名/责任者:

基于云架构的智能测试系统关键技术及应用/邓士杰[等]著

出版发行项:

北京:北京理工大学出版社,2021

ISBN及定价:

978-7-5682-9617-5/CNY56.00

载体形态项:

151页:图;24cm

并列正题名:

Key technology and application of intelligent test system based on cloud architecture

个人责任者:

邓士杰 著

学科主题:

自动测试系统-研究

中图法分类号:

TP274

题名责任附注:

题名页题其余责任者: 丁超, 唐力伟, 张英波, 苏续军, 汪伟

书目附注:

有书目 (第145-151页)

提要文摘附注:

本书针对现有技术架构下的自动测试系统存在着测试效率和测试资源利用率偏低, 测试成本偏高, 导致已无法高效适应大规模并行测试应用场景的问题, 借鉴云计算的理念, 将电子数据表格技术、虚拟化技术以及最优化理论引入到自动测试系统领域, 并对涉及的关键核心问题进行了论述。本书主要介绍了自动测试系统发展历程、涉及关键技术及未来发展趋势, 云架构下智能自动测试系统的硬件模型、软件模型和运行机制, 智能传感器技术、硬件测试资源虚拟化技术, 不同测试任务下测试资源动态调度理论、原理样机设计与验证等内容。

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