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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:24

题名/责任者:
现代光电测试技术/郝群 ... [等] 编著
出版发行项:
北京:北京理工大学出版社,2020
ISBN及定价:
978-7-5682-8378-6/CNY48.00
载体形态项:
171页:图;26cm
并列正题名:
Modern optoelectronic measurement and testing technology
个人责任者:
郝群 编著
个人责任者:
胡摇 编著
个人责任者:
王姗姗 编著
个人责任者:
张韶辉 编著
学科主题:
光电检测-测试技术
中图法分类号:
TN206
一般附注:
北京理工大学“双一流”建设精品出版工程
题名责任附注:
题名页题其余责任者: 胡摇, 王姗姗, 张韶辉
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书以光电被测对象为主线, 较全面地介绍了光学量和几何量测量中所涉及的基本理论, 主要测量原理、方法, 主要测量仪器的组成及主要技术特点。在保留经典测量方法的同时, 介绍了当代国内外主流的、代表未来发展方向的光电测量原理和仪器, 如同步移相干涉测试技术等。
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