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题名/责任者:

产品设计的电磁兼容故障排除技术/(美) 帕特里克·G. 安德烈, 肯尼思·D. 怀亚特著 崔强译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-111-62047-1/CNY49.00

载体形态项:

254页:图;21cm

并列正题名:

EMI Troubleshooting cookbook for Product Designers

丛编项:

国际电气工程先进技术译丛

个人责任者:

(美) 安德烈 (André, Patrick G.) 著

个人责任者:

(美) 怀亚特 (Wyatt, Kenneth D.) 著

个人次要责任者:

崔强 译

学科主题:

电子产品-产品设计-电磁兼容性-故障修复

中图法分类号:

TN03

出版发行附注:

由SciTech公司授权出版

相关题名附注:

英文题名取自封面

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书详细讲述了产品的电磁干扰（EMI）故障排除技术。其目的是为工程师和技术人员提供EMI故障排除思路、故障排除方法或诊断工具。全书共11章，内容包括电磁基础、电磁干扰和电磁兼容、测量仪器、辐射发射、传导发射、辐射敏感度、传导敏感度、电快速瞬变脉冲群(EFT)、静电放电(ESD)、浪涌和雷电脉冲的瞬态抑制，以及其他特定的EMI问题。此外，本书还给出了8个附录，为读者提供了非常有价值的辅助信息、技术和工具。

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