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题名/责任者:

电子元器件检验技术:试验部分/王晓晗，罗宏伟编著

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-121-33484-9/CNY98.00

载体形态项:

11,369页:图;26cm

丛编项:

可靠性技术丛书

个人责任者:

王晓晗 编著

个人责任者:

罗宏伟 编著

学科主题:

电子元器件-检测

中图法分类号:

TN6

题名责任附注:

工业和信息化部电子第五研究所组编

提要文摘附注:

本书共五章，内容包括：寿命试验技术、环境试验技术、空间环境试验技术、物理试验技术、DPA技术及结构分析技术。

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