MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：26
- 题名/责任者:
- 微波器件电磁损伤规律研究/谭志良... [等]著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2018
- ISBN及定价:
- 978-7-03-059112-8/CNY88.00
- 载体形态项:
- 210页;24cm
- 个人责任者:
- 谭志良 著
- 学科主题:
- 微波半导体器件-研究
- 中图法分类号:
- TN385
- 题名责任附注:
- 著者还有：马立云、宋培姣、谢鹏浩、王玉明
- 提要文摘附注:
- 本书由浅入深、系统地介绍了几种常用的微波半导体器件的电磁损伤机理。为便于读者自学和参考，本书首先介绍了几种微波半导体器件基础知识和典型的电磁脉冲及其效应；然后重点通过仿真分析和实验分析介绍了几种微波半导体器件的电磁损伤机理；最后简要介绍了几种半导体器件电磁损伤模型。
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN385/6 | CN1772406 |  内阅图书
|
阅览 | 内阅图书 | |
| TN385/6 | CN1772407 | 未央馆
|
可借 | 未央馆 | |
| TN385/6 | CN1772408 | 未央馆
|
可借 | 未央馆 |
显示全部馆藏信息