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- 题名/责任者:
- 绝缘体上硅(SOI)技术:制造及应用/(法) Oleg Kuanchuck,(法) Bich-Yen Nguyen等著 刘忠立,宁瑾,赵凯译
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2018
- ISBN及定价:
- 978-7-118-11636-6 精装/CNY128.00
- 载体形态项:
- 13,385页:图;24cm
- 个人责任者:
- (法) 库侬楚克 (Kuanchuck, Oleg) 著
- 个人责任者:
- (法) 宁根 (Nguyen, Bich-Yen) 著
- 个人次要责任者:
- 刘忠立 译
- 个人次要责任者:
- 宁瑾 译
- 个人次要责任者:
- 赵凯 译
- 学科主题:
- 绝缘体上硅薄膜
- 中图法分类号:
- TN304.9
- 一般附注:
- 装备科技译著出版基金
- 出版发行附注:
- 本译著由Elsevier Singapore Pte Ltd和国防工业出版社合作完成
- 提要文摘附注:
- 本书由绝缘体上硅材料及制造和SOI器件及应用两部构成。内容包括:绝缘体上硅晶圆片材料及制造技术、先进的绝缘体上硅材料及晶体管电学性质的表征、平面全耗尽绝缘体上硅互补金属氧化物半导体技术等14章。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN304.9/3 | CN1771354 | 内阅图书 | 阅览 | 内阅图书 | |
TN304.9/3 | CN1771355 | 未央馆 | 可借 | 未央馆 |
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