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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:35

题名/责任者:
基于光热偏转法的激光薄膜损伤识别研究/韩锦涛著 杨利红指导
出版发行项:
西安:西安工业大学,2015
ISBN及定价:
缴送
载体形态项:
64页;29cm
个人责任者:
韩锦涛
个人次要责任者:
杨利红 指导
非控制主题词:
SiO2薄膜;光热偏转法;激光损伤阈值
中图法分类号:
O484
学位论文附注:
硕士学位论文——西安工业大学光电工程学院,2015
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
O484/72 759003492   特种     阅览
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