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题名/责任者:

纳米力学测试新方法:扫描探针声学显微术/李法新, 周锡龙, 付际著

出版发行项:

北京:科学出版社,2017

ISBN及定价:

978-7-03-051576-6/CNY78.00

载体形态项:

185页, [7] 页图版:图 (部分彩图);24cm

并列正题名:

Nanomechnical testing method:atomic force acoustic microscopy

其它题名:

扫描探针声学显微术

个人责任者:

李法新 著

个人责任者:

周锡龙 著

个人责任者:

付际 著

学科主题:

纳米材料-材料力学-研究

中图法分类号:

TB383.01

一般附注:

国家科学技术学术著作出版基金资助出版

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书从AFAM的力学基础－接触力学出发，阐述了AFAM的原理和基础、准确度和灵敏度、粘弹性成像，以及AFAM的广泛应用。此外，还对正在兴起的多频原子力显微术进行了介绍。

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