MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:43
- 题名/责任者:
- 现代电子系统软错误/(法) Michael Nicolaidis主编 韩郑生, 毕津顺译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2016
- ISBN及定价:
- 978-7-121-29097-8/CNY59.00
- 载体形态项:
- 16, 240页:图;26cm
- 丛编项:
- 国防电子信息技术丛书
- 个人责任者:
- 尼古拉季斯 (Nicolaidis, Michael) 主编
- 个人次要责任者:
- 韩郑生 译
- 个人次要责任者:
- 毕津顺 译
- 学科主题:
- 电子系统-研究
- 中图法分类号:
- TN103
- 版本附注:
- 据Springer US 2011年英文版译
- 出版发行附注:
- 由Springer science+business media授权出版
- 书目附注:
- 有书目。
- 提要文摘附注:
- 本书系统阐述了软错误发生的复杂物理过程,全书共分为10章。主要介绍了软错误研究历史和未来发展趋势;单粒子效应发生机制与分类;JEDEC标准;门级建模与仿真;电路级和系统级单粒子效应建模与仿真;硬件故障注入;采用加速测试与错误率预估技术,评估验证面向空间或地面环境的集成电路;电路级软错误抑制技术;软件级软错误抑制技术;高可靠电子系统软错误性能的技术指标与验证方法。全书总结了过去,预测了未来趋势,阐述了单粒子的翻转物理机制、建模、软错误抑制技术以及业界和学界的研究成果。
- 使用对象附注:
- 本书适用于微电子与固体电子学专业的教师、研究生和本科生,也可供高可靠抗辐射集成电路领域的研究人员和工程技术人员使用。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
TN103/20 | CN1477014 | - | ![]() |
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TN103/20 | CN1477015 | - | ![]() |
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