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题名/责任者:

X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门/郑振环, 李强编著

出版发行项:

北京:中国建材工业出版社,2016

ISBN及定价:

978-7-5160-1456-1/CNY38.60

载体形态项:

113页:图;24cm

并列正题名:

Introduction to rietveld refinement with X-ray powder diffraction data and GSAS software

个人责任者:

郑振环 编著

个人责任者:

李强 编著

学科主题:

多晶-X射线衍射-研究

中图法分类号:

O721

相关题名附注:

英文并列题名取自封面

书目附注:

有书目 (第112-113页)

提要文摘附注:

本书共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。

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