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题名/责任者:

搞砸了的设计:随处可见的BAD UI/(日) 中村聪史著 邬佳笑译

出版发行项:

北京:人民邮电出版社,2016

ISBN及定价:

978-7-115-42805-9/CNY79.00

载体形态项:

xxi, 221页:图;26cm

其它题名:

随处可见的BAD UI

丛编项:

图灵交互设计丛书

个人责任者:

中村聪史 1976- 著

个人次要责任者:

邬佳笑 译

学科主题:

人机界面-程序设计

中图法分类号:

TP311.1

出版发行附注:

本书中文简体字版由Gijutsu Hyoron Co.,Ltd.授权人民邮电出版社独家出版

责任者附注:

中村聪史 (1976-)，出生于日本长崎县。明治大学综合数理学院副教授。大阪大学工学院本科毕业后，于2004年完成同志社大学的工科博士课程，取得博士学位(工科)。

责任者附注:

邬佳笑，毕业于上海外国语大学日语专业，现就职于某日系电子研发公司，从事项目管理工作。

提要文摘附注:

本书是一本BAD UI案例集，作者经过了长期的积累，收集了近200个BAD UI案例，比如搞不清是推开还是拉开的大门、让人进错洗手间的男女标识、不得不一遍遍重新填写的表格、令人不知所措的自动售票机界面或Web页面等。旨在结合照片挖掘这些失败案例背后的原因，使读者以它们为参考，学习什么样的设计会造成用户不便，进而设计出或选择到更好的UI。

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