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题名/责任者:

纳米压痕技术检测残余应力/王海斗, 朱丽娜, 徐滨士编著

出版发行项:

北京:科学出版社,2016

ISBN及定价:

978-7-03-048781-0/CNY75.00

载体形态项:

196页:图;24cm

个人责任者:

王海斗 编著

个人责任者:

朱丽娜 编著

个人责任者:

徐滨士 编著

学科主题:

纳米技术-压痕-检测-残余应力-研究

中图法分类号:

TB303

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书作者编著此书，拟向广大读者介绍先进的纳米压痕技术测量残余应力的基本知识，期望让更多领域的专家与工程技术人员在机械设计、加工制造、维修与再制造中，了解这种测量技术的特点和效果，能合理地进行选用和运用，以求更好地指导生产实践，获得最大的社会与经济效益。本书共分五章，简单介绍了残余应力的形成机理及其对表面性能的影响，系统归纳了传统的残余应力测量技术的原理及缺陷。本书重点介绍了先进的纳米压痕测量技术，深入阐述了不同计算模型的测量原理、适用范围及缺陷，并系统总结了不同模型在残余应力测量中的实际应用。所取材料主要是来自作者近年来的最新研究成果以及该领域同行学者的重要研究内容。

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