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题名/责任者:

可靠性物理/工业和信息化部电子第五研究所组编 恩云飞, 谢少锋, 何小琦编著

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2015

ISBN及定价:

978-7-121-27232-5/CNY88.00

载体形态项:

xvi, 426页:图;24cm

丛编项:

可靠性技术丛书

个人责任者:

恩云飞 编著

个人责任者:

谢少锋 编著

个人责任者:

何小琦 编著

团体次要责任者:

工业和信息化部电子第五研究所 组编

学科主题:

电子元件-可靠性-研究

学科主题:

电子器件-可靠性-研究

中图法分类号:

TN6

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本选题全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和元器件失效机理。全书共14章，前3章介绍可靠性物理基本理论、电子材料和应力、典型失效物理模型，后八章分别论述了微电子器件、光电子器件、高密度集成电路等11类典型元器件的工艺结构、失效机理及数理模型。

使用对象附注:

本书适合于电子行业中的工程技术人员、质量管理人员和可靠性工作者阅读，也可供高等院校相关专业学生和研究生学习参考。

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