MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：30
- 题名/责任者:
- 互换性与技术测量/主编胡立志
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2013
- ISBN及定价:
- 978-7-302-32642-7/CNY36.00
- 载体形态项:
- 281页:图;26cm
- 个人责任者:
- 胡立志 主编
- 学科主题:
- 零部件-互换性-高等学校-教材
- 学科主题:
- 零部件-技术测量-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TG801
- 一般附注:
- 普通高等院校机电工程类规划教材
- 书目附注:
- 有书目 (第280-281页)
- 提要文摘附注:
- 本书根据新一代几何产品技术规范标准，介绍了互换性与标准化概念、几何量测量基础、孔轴公差与配合、几何公差及几何误差检测、表面粗糙度轮廓及其检测、滚动轴承的公差与配合、孔轴检测与量规设计基础、圆锥公差与检测、圆柱螺纹公差与检测、圆柱齿轮公差与检测、键和花键联结的公差与检测等内容。
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TG801/67 | CN1328725 | - |  内阅图书
|
阅览 |
| TG801/67 | CN1328726 | - | 未央馆
|
可借 |
| TG801/67 | CN1328727 | - | 未央馆
|
可借 |
| TG801/67 | CN1328728 | - | 未央馆
|
可借 |
显示全部馆藏信息