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题名/责任者:

材料现代分析技术/朱和国，杜宇雷，赵军编著

出版发行项:

北京:国防工业出版社,2012

ISBN及定价:

978-7-118-08091-9/CNY42.00

载体形态项:

XIII,346页:图，照片;26cm

并列正题名:

Advanced analysis methods for materials

丛编项:

普通高等教育材料科学与工程“十二五”规划教材

个人责任者:

朱和国 编著

个人责任者:

杜宇雷 编著

个人责任者:

赵军 (材料) 编著

学科主题:

工程材料-分析方法-高等教育-教材

学科主题:

工程材料

学科主题:

分析方法

中图法分类号:

TB302

相关题名附注:

封面英文题名：Advanced analysis methods for materials

提要文摘附注:

本书首先介绍了晶体学基础知识，然后介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体X射线衍射分析的方法、X射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析等方面的应用；介绍了电子衍射的物理基础、透射电子显微镜的结构与原理、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术、扫描电子显微镜的结构与原理、电子探针及其应用；介绍了X射线光电子能谱仪(XPS)、扫描隧道电镜(STM)、低能电子衍射(LEED)等常用表面分析技术和热重分析法(TG)、差热分析法(DTA)、差示扫描量热法(DSC)等常用热分析技术的原理、特点及其应用；最后简要介绍了光谱分析技术。

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