MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:29
- 题名/责任者:
- 低功耗验证方法学/(美) Srikanth Jadcherla ... [等] 著 刘雷波, 夏宇闻译
- 出版发行项:
- 北京:北京航空航天大学出版社,2012
- ISBN及定价:
- 978-7-5124-0849-4/CNY32.00
- 载体形态项:
- 180页:图;24cm
- 丛编项:
- 国外数字系统设计经典教材系列
- 个人责任者:
- 迦奇拉 (Jadcherla, Srikanth) 著
- 个人责任者:
- 伯杰龙 (Bergeron, Janick) 著
- 个人责任者:
- Inoue, Yoshio 著
- 个人责任者:
- 弗林 (Flynn, David) 著
- 个人次要责任者:
- 刘雷波 译
- 个人次要责任者:
- 夏宇闻 译
- 学科主题:
- 电路设计-教材
- 中图法分类号:
- TM02
- 题名责任附注:
- 题名页题其余责任者: Janick Bergeron, Yoshio Inoue, David Flynn
- 出版发行附注:
- 由美国Synopsys公司授权
- 责任者附注:
- Jadcherla规范汉译姓: 迦奇拉 Bergeron规范汉译姓: 伯杰龙 Flynn规范汉译姓: 弗林
- 书目附注:
- 有书目 (第178-180页) 和索引
- 提要文摘附注:
- 本书分析归纳了多电压低功耗设计仿真验证技术中几乎所有的关键问题, 并提出了十分重要的设计验证原则和规范。
全部MARC细节信息>>
索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
TM02/20 | CN1311152 | - | 内阅图书 | 阅览 |
TM02/20 | CN1311153 | - | 未央馆 | 可借 |
TM02/20 | CN1311154 | - | 未央馆 | 可借 |
TM02/20 | CN1311155 | - | 未央馆 | 可借 |
显示全部馆藏信息