MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：24
- 题名/责任者:
- 条纹法则测量薄膜厚度技术研究/李浩然著 葛爱明，苏俊宏指导
- 出版发行项:
- 西安:西安工业大学,2012
- ISBN及定价:
- 缴送
- 载体形态项:
- 58页;29cm
- 个人责任者:
- 李浩然 著
- 个人次要责任者:
- 葛爱明 指导
- 个人次要责任者:
- 苏俊宏 指导
- 非控制主题词:
- 薄膜厚度测试；干涉条纹图像；图像细化；数字滤波
- 中图法分类号:
- TN247
- 学位论文附注:
- 硕士论文——西安工业大学光电工程学院，2012
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