MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:57
- 题名/责任者:
- 光电器件测试技术/彭晓雷,张逊民主编
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2011
- ISBN及定价:
- 978-7-121-13809-6/CNY29.50(含光盘)
- ISBN及定价:
- 978-7-89464-968-3 光盘
- 载体形态项:
- 101页;26cm+1光盘
- 丛编项:
- 职业院校理论实践一体化系列教材/陈振源总主编 .光电子技术专业
- 个人责任者:
- 彭晓雷 主编
- 个人责任者:
- 张逊民 主编
- 学科主题:
- 光电器件-测试技术-中等专业学校-教材
- 中图法分类号:
- TN206
- 载体形态附注:
- 附光盘:ISBN 978-7-89464-968-3
- 提要文摘附注:
- 本书以光电器件测试技术为主要对象,通过各种光电器件测试仪器来讲解测试技术,较全面地介绍了在光学量和非光学量测试中所涉及的基本理论和概念、主要测试原理和测试方法、仪器组成及主要技术特点。 全书共分8个项目,项目一介绍光电器件测试的概念;项目二介绍常见光通量的测试原理;项目三介绍常见光谱特性分析原理及方法、光谱分析系统的组成及使用;项目四介绍节能灯光电参数的测试;项目五介绍LED光电参数测试的方法;项目六介绍LED空间光色分布的测量方法;项目七介绍照度计、亮度计和色度计的作用、原理及意义;项目八介绍老化试验和加速环境模拟试验的原理、目的、意义和操作。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN206/7 | CN1287152 | - | 内阅图书 | 阅览 | |
TN206/7 | CN1287153 | - | 未央馆 | 可借 | |
TN206/7 | CN1287154 | - | 未央馆 | 可借 | 未央馆 |
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