MARC状态：已编 文献类型：中文期刊 浏览次数：25
- 题名/责任者:
- Microelectronics Reliability
- 出版发行项:
- GB:Elsevier Science,UK,1961-
- ISSN及定价:
- 00262714
- ISSN及定价:
- 0026-2714
- 统一书刊号:
- CN
- 邮发代号:
- 736C0006
- 载体形态项:
- 200;26.0*19.0
- 并列正题名:
- 微电子学可靠性(英)
- 中图法分类号:
- TN
- 一般附注:
- 其他题名：微电子学可靠性(英)
- 出版周期附注:
- monthly
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