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MARC状态:已编 文献类型:西文图书 浏览次数:22

题名/责任者:
Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Dale Newbury ... [et al.]
出版发行项:
New York : Plenum Press, c1986.
ISBN:
0306421402
载体形态项:
xii, 454 p., [4] p. of plates : ill. ; 24 cm.
附加个人名称:
Newbury, Dale E.
论题主题:
X-ray microanalysis.
论题主题:
Scanning electron microscopes.
中图法分类号:
TN27
一般附注:
Includes index.
书目附注:
Bibliography: p. 435-448.
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TN27/E5 700012337   西文     可借 西文
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