MARC状态：已编 文献类型：西文图书 浏览次数：29
- 题名/责任者:
- 2nd Microelectronics Measurement Technology Seminar : proceedings, San Jose Hyatt House, San Jose, CA., Mar. 11-12, 1980.
- 出版发行项:
- Boston, MA. : Benwill, 1980.
- 载体形态项:
- 344 p. : ill. ; 28 cm.
- 会议名称:
- Microelectronics Measurement Technology Seminar (2nd : 1980 : San Jose, Calif.)
- 中图法分类号:
- TN4-53
- 书目附注:
- Includes bibliographical references.
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN4-53/E4 | 700007241 |  西文密集
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| TN4-53/E4 | 700007242 | 西文密集
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| TN4-53/E4 | 700007243 | 西文密集
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| TN4-53/E4 | 700007244 | 西文密集
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| TN4-53/E4 | 700007245 | 西文密集
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